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TIR 100-2红外热发射率测定仪
更新时间:2021-05-29
产品型号:
描述:TIR 100-2红外热发射率测定仪应用范围广泛,可在数秒钟内快速确测定物体表面热发射率,实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。

TIR 100-2红外热发射率测定仪的详细资料:

TIR 100-2红外热发射率测定仪 

 

TIR 100-2红外热发射率测定仪应用范围广泛,可在数秒钟内快速确测定物体表面热发射率,实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。
 

TIR 100-2可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量,该设备自成一体,包含全部操作和电子元件,可测量和处理传感器信号和显示数据,以及控制黑体温度。                             
 

TIR 100-2TIR 100的更新设备,我们不但在TIR 100-2中融入了TIR 100的可靠技术,还高度集成了电子元件和舒适的触摸屏使设备更加轻巧和易于使用。

内部微控制器可将发射器温度调节至恒定的100℃,同时记录传感器信号并配合存储的标准值将其转换为发射率的*值。

大屏幕LED显示设备的状态,测量结果和操作菜单,触摸屏面板确保所有功能轻松实现。设备的核心部件是半球形的黑体,由于发射器涂有黑色涂层,因此具备近乎理想黑体的所有属性。发射器的工作温度为100℃,黑体外壳的其余部分与发射器热绝缘。因此在仪器运行过程中仅产生轻微热量。

仪器内部的逆向热熔丝防止发射器加热时产生过多热量,并可在125℃中断加热过程。热电堆传感器将反射的热辐射转换为电压信号,超过97%的辐射能的波长在2.5 μm40 μm范围之间。

 

TIR 100-2红外热发射率测定仪应用:

1.镀膜玻璃的质量控制
热保护绝缘玻璃的低U-值取决于玻璃镀膜的低发射率,TIR 100对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。

 2.太阳能收集器生产的质量控制
优质的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率,因此TIR 100也是此行业质量控制的理想设备

 

技术数据
测量范围                        < 0,020 … 0,980
精度                              ± 0,002
光谱范围                        2,5 μm - 40 μm
辐射能*                     8 μm                                 
黑体温度                        100 °C
积分时间                         5
测量点                            ~5 mm
额定功率                         130 W230 V~/115 V~ (opt.)
尺寸                               230毫米x 140毫米x 120毫米
重量                               2公斤
校准用标准                低发射端:抛光铝
                                       高发射端:黑色遮光罩
参考发射率                低发射端标准值~0,02
                                      
高发射端标准值~0,98
                                     
(个别校准可参考国家物理实验室校准标准)

 

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