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  • 四探针面电阻测量仪SD-800

    四探针面电阻测量仪SD-800采用四探针接触式原理,用于测量导电膜层的面电阻,探针直径大,针头光滑,能伸缩,不易 划伤膜层。仪器有多个量程范围可自动选择,以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据,校准数据和测量结果 自动存储。

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    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2022-11-25
  • 非接触式面电阻测试仪Statometer G

    非接触式面电阻测试仪Statometer G采用感应式测量原理,无探针接触导电膜层,既可测量表面导电也可测量表面不导电的导电玻璃和导电膜层,是目前Low-E镀膜生产普遍选用的优质选择。

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