Nanosystem NV-1000白光干涉仪是利用白光干涉特性来进行表面形貌的测量，它结合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一个非常大的面积高达21.7毫米x16.3毫米。这使得高精度和大面积快速测量成为可能，而无需缝合。

NanoSystem CS-2000气缸内壁表面形貌仪结合了无损分析性能, 操作便利。除了评估ISO粗糙度值, 采用白光干涉测量技术之外, 这款紧凑型系统还可以测量纳米尺度粗糙度, 亚纳米分辨率和生产水平能力的三维表面形貌。

NanoSystem NV-1800 3D轮廓仪属于紧凑式机型，但仍具有很高的测试性能。简单的操作性和良好的重复性使得它在研发和分析不良产品方面发挥着重要作用。

LUXET HFS 50频域热成像测量系统用于高热导率材料的热扩散率测量。它融合锁相热成像与周期脉冲激光加热，以非接触、无损方式激发并捕捉薄膜表面的交变热波，同步解调出温度幅值与相位信息，进而拟合得到热扩散系数。其核心突破在于全场成像：640*480面阵红外相机单次测量即可呈现面内与面外热扩散系数的二维分布，直观揭示各向异性、导热均匀性及内部缺陷，将传统“单点数值”升级为“全场图像”。

LUXET HFS 50薄膜热扩散率测量系统用于高热导率材料的热扩散率测量。它融合锁相热成像与周期脉冲激光加热，以非接触、无损方式激发并捕捉薄膜表面的交变热波，同步解调出温度幅值与相位信息，进而拟合得到热扩散系数。其核心突破在于全场成像：640*480面阵红外相机单次测量即可呈现面内与面外热扩散系数的二维分布，直观揭示各向异性、导热均匀性及内部缺陷，将传统“单点数值”升级为“全场图像”。

LUXET HFS 50微米薄膜导热测量系统用于薄膜材料缺陷与均匀性评估。它融合锁相热成像与周期脉冲激光加热，以非接触、无损方式激发并捕捉薄膜表面的交变热波，同步解调出温度幅值与相位信息，进而拟合得到热扩散系数。其核心突破在于全场成像：640*480面阵红外相机单次测量即可呈现面内与面外热扩散系数的二维分布，直观揭示各向异性、导热均匀性及内部缺陷，将传统“单点数值”升级为“全场图像”。