LIT HFS 50锁相热成像测量系统用于薄膜材料缺陷与均匀性评估。它融合锁相热成像与周期脉冲激光加热，以非接触、无损方式激发并捕捉薄膜表面的交变热波，同步解调出温度幅值与相位信息，进而拟合得到热扩散系数。其核心突破在于全场成像：640*480面阵红外相机单次测量即可呈现面内与面外热扩散系数的二维分布，直观揭示各向异性、导热均匀性及内部缺陷，将传统“单点数值”升级为“全场图像”。

LIT HFS 100锁相热成像测量系统用于薄膜材料缺陷与均匀性评估。它融合锁相热成像与周期脉冲激光加热，以非接触、无损方式激发并捕捉薄膜表面的交变热波，同步解调出温度幅值与相位信息，进而拟合得到热扩散系数。其核心突破在于全场成像：640*512面阵红外相机单次测量即可呈现面内与面外热扩散系数的二维分布，直观揭示各向异性、导热均匀性及内部缺陷，将传统“单点数值”升级为“全场图像”。

LUXET HFS 100微米薄膜导热测量系统用于薄膜材料缺陷与均匀性评估。它融合锁相热成像与周期脉冲激光加热，以非接触、无损方式激发并捕捉薄膜表面的交变热波，同步解调出温度幅值与相位信息，进而拟合得到热扩散系数。其核心突破在于全场成像：640×512面阵红外相机单次测量即可呈现面内与面外热扩散系数的二维分布，直观揭示各向异性、导热均匀性及内部缺陷，将传统“单点数值”升级为“全场图像”。

LUXET HFS 100微米薄膜热扩散率测量系统用于薄膜材料缺陷与均匀性评估的设备。它融合锁相热成像与周期脉冲激光加热，以非接触、无损方式激发并捕捉薄膜表面的交变热波，同步解调出温度幅值与相位信息，进而拟合得到热扩散系数。其核心突破在于全场成像：640×512面阵红外相机单次测量即可呈现面内与面外热扩散系数的二维分布，直观揭示各向异性、导热均匀性及内部缺陷，将传统“单点数值”升级为“全场图像”。

NEOSCAN N70 microCT显微CT采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率。科研级计算机断层扫描系统

NEOSCAN N80 microCT显微CT采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率。Neoscan N80是一款科研级、高精度计算机断层扫描系统。