NEOSCAN N60 microCT显微CT采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率。Neoscan N60是一款紧凑型可承担得起的microCT系统

Neoscan N60 microCT微型计算机断层扫描系统采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率。Neoscan N60是一款紧凑型可承担得起的microCT系统

Neoscan N70 microCT微型计算机断层扫描系统采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率。科研级计算机断层扫描系统

Neoscan N80 microCT微型计算机断层扫描系统采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率。Neoscan N80是一款科研级、高精度计算机断层扫描系统。

OLYMPUS MX50半导体检测显微镜专为6及8寸晶圆及大面板LCD/TFT产业开发设计。无远限度光学系统，并提供高达26.5mm的超宽视野。对光路中的耀斑有很好的抑制，可以实现很高的图象对比度

NanoSystem CS-2000气缸内壁光学测量系统结合了无损分析性能, 操作便利。除了评估ISO粗糙度值, 采用白光干涉测量技术之外, 这款紧凑型系统还可以测量纳米尺度粗糙度, 亚纳米分辨率和生产水平能力的三维表面形貌。 它可以测量直径从70到160毫米的缸孔。