NanoSystem CS-2000气缸内壁光学测量系统结合了无损分析性能, 操作便利。除了评估ISO粗糙度值, 采用白光干涉测量技术之外, 这款紧凑型系统还可以测量纳米尺度粗糙度, 亚纳米分辨率和生产水平能力的三维表面形貌。 它可以测量直径从70到160毫米的缸孔。

奥林巴斯OLYMPUS DSX1000超景深数码显微镜用于观察和测量各种样品，包括电子元件和金属材料。此显微镜使用简单，只要放上样品，就可以轻松地完成 3D 观察、测量、报告自动生成等一系列操作。

奥林巴斯Olympus STM7工业测量显微镜系列采用了当前*光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，此外，像差也被*消除，以确保实现对微小细节的高精度测量。

NanoSystem NVM-6000P表面形貌测量系统测为LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等领域提供纳米级别精度的测l。NVM-6000P是型设备，用于基板表面形貌的测量。 基板上的Via Hole，Pad形状，Pattern形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。

Olympus 3D测量激光显微镜OLS5000作为3D测量显微镜有着更真实的三维形貌反映能力，具有操作更便捷、更快速的优势。OLS5000采用计算机直观控制，搭载的扫描算法，可通过计算机的处理转换，快速获得完整带有高度信息的样品表面图像，并通过对样品不同层面的扫描和计算机处理。在使用时，只要在放置样品后按动按钮，设备就会自动进行工作，无需进行复杂的设置调整，即使是不熟练的用户也可获准确的检测结果

奥林巴斯Olympus半导体显微镜MX63/63L系统支持检测尺寸达300毫米的晶圆、平板显示器、印刷电路板以及其他样品的质量。这些符合人体工学设计的人性化系统采用模块化设计，可在各种应用中实现Z佳观察条件。结合奥林巴斯Stream图像分析软件使用时，从观察到生成报告的整个检测流程更简洁直观。