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非接触式面电阻测试仪Statometer G

简要描述:非接触式面电阻测试仪Statometer G采用感应式测量原理,无探针接触导电膜层,既可测量表面导电也可测量表面不导电的导电玻璃和导电膜层,是目前Low-E镀膜生产普遍选用的优质选择。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-11-25
  • 访  问  量:164

详细介绍

品牌其他品牌价格区间5万-10万
自动化度手动应用领域化工,能源,建材,电子,综合

非接触式面电阻测试仪Statometer G采用感应式测量原理,无探针接触导电膜层,既可测量表面导电也可测量表面不导电的导电玻璃和导电膜层,是目前Low-E镀膜生产普遍选用的优质选择。

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产品特点:

1.非电流接触测试镀膜层;

2.不摩擦刮伤测试涂层;

3.Ohm/sqSiemens/sq显示数据;

4.大液晶显示;

5.便携式,具备数据记忆及232接口传输

6.仪器具备锂电子供电

7.nm级显示膜层厚度及ODoptical density)值(选配);

8.明亮图像显示数据

 

非接触式面电阻测试仪Statometer G规格:

测量方法:高频反应(涡流感应)

核心测量范围:0.5…20.00Ω/□

可扩展范围:达50.00Ω/□

解析度:0.5 Ohm: 0.001Ω/□

2 Ohm以上: 0.01Ω/□

20 Ohm以上:0.1Ω/□

精确性:0.5…5.0Ω/□: 5%

5.0…20Ω/□: 7%

20…50Ω/□:10%

测量连续性:2秒钟

串行接口:RS-232(通过插接座连接)

操作环境温度:+10—+45

外形尺寸:23cm*7cm*4cm

重量:约510

 


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