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FilmTek 2000SE光谱型椭偏仪

简要描述：FilmTek 2000SE光谱型椭偏仪以非常低的成本为薄膜应用提供了的测量性能和速度。FilmTek SE提供了自动测量薄膜厚度、折射率和消光系数的功能，非常适合学术和研发。

  • 产品型号：
  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2019-02-01
  • 访  问  量：180
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价格区间面议产地类别进口

Measurement Features

FilmTek™

2000SE / 3000SE

Index of Refraction折射率
(at 2µm thickness)

±0.0002

Thickness Measurement Range

膜厚范围

1Å-200µm

Maximum Spectral Range (nm)

大光谱范围

190-1700

Standard Spectral Range (nm)

标准光谱范围

240-1000

Reflection

反射

Yes

Transmission

透射

Yes (3000)

Spectroscopic Ellipsometry

光谱椭圆分析法

Yes

Power Spectral Density

Yes

Multi-angle Measurements (DPSD)

Yes

TE & TM Components of Index

 No

Multi-layer thickness

Yes

Index of Refraction

Yes

Extinction (absorption) Coefficient

Yes

Energy band gap

Yes

Composition

Yes

Crystallinity

Yes

Inhomogeneous Layers

Yes

Surface Roughness

Yes

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